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原文
arXiv · Computer Vision· Arul Rana, Agrim Tripathi, Shoaib Ahmed Dipu, Md. Shaown Miah, Syed Ishtiaque Ahmed, Sayeed Shafayet Chowdhury·· 3 小时前AI 评分20

Vmem-φ:基于膜电位统计的低计算量脉冲神经网络分布外检测

Vmem-$\varphi$: Low-Compute Out-of-Distribution Detection in Spiking Neural Networks from Membrane-Potential Statistics

AI 导读

论文提出 Vmem-φ 方法,利用脉冲神经网络(SNN)亚阈值膜电位 \(V_{\mathrm{mem}}(t)\) 的逐通道统计量检测分布外(OOD)输入,并提出 Multi-Descriptor Deviation(MDD)方法。

来源:arXiv · Computer Vision · arxiv.org